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X射線檢測(cè)技術(shù)的發(fā)展及應(yīng)用
  1. [日期:2019-10-25 查看次數(shù):6867]

X射線檢測(cè)是利用X射線可以穿透物質(zhì)和在物質(zhì)中具有衰減的特性,發(fā)現(xiàn)工件缺陷的一種無(wú)損檢測(cè)方法。


X射線檢測(cè)技術(shù)從zui初的膠片射線照相技術(shù),經(jīng)過(guò)近100年的發(fā)展,已形成了由X射線照相、X射線實(shí)時(shí)成像、X射線層析成像等構(gòu)成的比較完整的X射線檢測(cè)技術(shù)體系。


根據(jù)工件檢測(cè)圖像獲得方法的不同,X射線檢測(cè)技術(shù)分為X射線照相檢測(cè)技術(shù)和數(shù)字射線檢測(cè)技術(shù)。X射線照相檢測(cè)技術(shù)發(fā)展歷史久,技術(shù)成熟、應(yīng)用廣泛,為其他射線檢測(cè)技術(shù)的發(fā)展奠定了堅(jiān)實(shí)的基礎(chǔ)。數(shù)字射線檢測(cè)技術(shù)主要包括X射線實(shí)時(shí)成像技術(shù)、X射線斷層CT成像檢測(cè)技術(shù)、X射線顯微CT成像檢測(cè)技術(shù)、X射線錐束CT三維成像檢測(cè)技術(shù)和康普頓背散射技術(shù)(CBS)等。


X射線照相檢測(cè)技術(shù)是zui傳統(tǒng)的無(wú)損檢測(cè)技術(shù)之一,在工業(yè)領(lǐng)域中得到了廣泛的應(yīng)用,其主要優(yōu)點(diǎn)是對(duì)工件中的夾雜、孔隙等體積型缺陷及密度分布不均等均有很好的檢出效果,且檢測(cè)結(jié)果直觀,具有較高的靈敏度。但其對(duì)分層缺陷的檢測(cè)相對(duì)比較困難,且處理步驟繁瑣、過(guò)程復(fù)雜,不僅成本較高,而且有污染物質(zhì)產(chǎn)生。




東莞源興光學(xué)X-RAY檢查機(jī)用于PCB壓合和鉆孔工序檢查內(nèi)層孔位對(duì)位精度觀測(cè)及測(cè)量??梢詫?duì)圖像進(jìn)行各種測(cè)量:圓心位置,點(diǎn)與點(diǎn)距離,圓形面積等,并可根據(jù)設(shè)定參數(shù)進(jìn)行判定。

特點(diǎn):


1)可視導(dǎo)航定位,實(shí)時(shí)觀測(cè)。


2) 密封式微聚焦X射線管和高質(zhì)量成像系統(tǒng),確??焖贉y(cè)量時(shí)無(wú)拖影。


3)密封式微聚焦X射線管、半封閉鉛防護(hù)結(jié)構(gòu)、雙層鉛橡皮防護(hù)簾三層防護(hù)技術(shù)確保使用人員安全 。


4)軟件采用獨(dú)有知識(shí)產(chǎn)權(quán)的多種圖像處理和測(cè)量技術(shù)。



X射線實(shí)時(shí)成像檢測(cè)技術(shù)是數(shù)字射線檢測(cè)技術(shù)的一種,它采用探測(cè)器代替?zhèn)鹘y(tǒng)的X射線膠片,不僅成像速度更快,成像質(zhì)量更高,而且不需要洗片、顯影、定影等操作過(guò)程,減少了化學(xué)藥品的消耗,從而價(jià)格成本更低、更加經(jīng)濟(jì)環(huán)保。X射線實(shí)時(shí)成像檢測(cè)技術(shù)具有很高的分辨力和較高的動(dòng)態(tài)范圍,可檢測(cè)密度差或厚度差很大的工件,同時(shí)還可以實(shí)時(shí)地進(jìn)行在線檢測(cè)。但是,X射線實(shí)時(shí)成像檢測(cè)技術(shù)與傳統(tǒng)的X射線照相檢測(cè)技術(shù)一樣,所得到的檢測(cè)圖像為二維投影圖,存在信息疊加的問(wèn)題。


X射線CT成像檢測(cè)技術(shù)得到的檢測(cè)圖像是與工件材料、結(jié)構(gòu)、組成成分及密度等特性相對(duì)應(yīng)的二維斷層圖像,同時(shí)還可進(jìn)行三維重建來(lái)獲得被檢測(cè)工件的三維立體圖,不存在信息疊加的問(wèn)題。其檢測(cè)圖像是數(shù)字化的結(jié)果,從中可直接得到CT值、像素尺寸等信息,且數(shù)字化圖像便于儲(chǔ)存、傳輸、分析及處理等。它具有高的空間和密度分辨能力,高的動(dòng)態(tài)范圍和可靠性。隨著高能量工業(yè)CT系統(tǒng)的研制,在足夠的穿透能量下,受檢工件的幾何結(jié)構(gòu)可不受限制。X射線CT成像檢測(cè)技術(shù)適用于對(duì)多種缺陷的檢測(cè)。


X射線顯微CT成像檢測(cè)技術(shù)是一種利用X射線成像原理進(jìn)行高分辨率三維成像的新型檢測(cè)技術(shù),可以用于對(duì)孔隙度及孔徑的測(cè)量。


隨著科學(xué)技術(shù)的不斷發(fā)展,X射線檢測(cè)技術(shù)不僅具有靈敏度高、分辨率高、動(dòng)態(tài)范圍大、圖像質(zhì)量好等系列有點(diǎn),同時(shí)適用于大多數(shù)缺陷、材料密度不均、材料結(jié)構(gòu)特性等方面的檢測(cè)并廣泛應(yīng)用于逆向工程中,是目前工業(yè)領(lǐng)域應(yīng)用zui廣泛的無(wú)損檢測(cè)方法。



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