儀器用途
適用于檢測PCB內(nèi)、外層蝕刻后線路的上幅及下幅寬度、線間距離、孔到邊線距離，以及圓孔、盲孔、弧的直徑等，并適用于IC晶片、薄膜和LCD等線寬線距的測量。
儀器特點
1.快速軟體測量功能：框選被測線寬區(qū)域后自動確定線邊界，輸出線寬值，判斷NG/OK，并同時輸出被測項目數(shù)據(jù)報表。同時具備SPC統(tǒng)計分析功能。
規(guī)格參數(shù)
項目
主要技術(shù)參數(shù)
型號
YX-XK25
測量精度
3x以上精度±1mm，2x精度±2mm，1x精度±3mm
放大倍率
光學放大倍率1.4x~9x連續(xù)可調(diào)，影像放大倍率70x~450x
可測板寬
≤760mm
可測線寬
20mm~120mm
分辨率
0.4μm~2.7μm/pixel
視野范圍
0.53mm x 0.4mm~ 3.3mm x 2.5mm
外形尺寸
960mmx760mmx1260mm
重量
150KG
